Indexed by:
Abstract:
本发明公开了一种基于拟蒙特卡洛模拟的加工误差模型全局灵敏度分析新方法,属于机床精度设计领域,具体涉及到多轴数控机床的空间误差建模方法以及基于拟蒙特卡洛模拟的加工误差模型全局灵敏度分析方法。本发明运用多体系统理论建立数控机床空间误差模型,根据蒙特卡洛模拟采样机理,对机床加工误差模型进行全局灵敏度分析,获得影响机床加工误差的关键几何误差参数,在机床设计的初期阶段,提出新的机床设计理念,为提升数控机床的加工精度以及关键几何误差参数补偿奠定了理论基础。
Keyword:
Reprint Author's Address:
Email:
Patent Info :
Type: 发明授权
Patent No.: CN201910498260.9
Filing Date: 2019-06-10
Publication Date: 2022-11-04
Pub. No.: CN110287553B
Applicants: 北京工业大学
Legal Status: 授权
Cited Count:
WoS CC Cited Count: 0
SCOPUS Cited Count:
ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All
WanFang Cited Count:
Chinese Cited Count:
30 Days PV: 21
Affiliated Colleges: