Indexed by：
Abstract：
本发明公开了一种基于非线性孤立波串的缺陷定量检测方法，其基本原理是，在一维均匀球形颗粒链或复合颗粒链中形成非线性孤立波串，利用非线性孤立波串在末端颗粒链与被测结构表面的反射特性，对结构中的缺陷深度及尺寸进行定量检测。通过多颗粒冲击或重颗粒冲击，可在一维均匀球形颗粒链中形成非线性孤立波串；由重、轻颗粒链组成复合颗粒链，采用重质颗粒从重颗粒链端进行冲击，也可在轻颗粒链中形成非线性孤立波串。在结构表面产生反射的主孤立波和次孤立波对缺陷的深度及尺寸敏感程度不同，结合主、次孤立波的损伤因子，可以对缺陷的深度及尺寸进行定量分析。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Patent Info ：
Type： 发明授权
Patent No.： CN201811342027.3
Filing Date： 2018-11-12
Publication Date： 2021-01-15
Pub. No.： CN109283254B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 12
Affiliated Colleges：
