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本发明公开了一种用于PIV实验避免反光的挡板装，该装置是一种用于粒子图像测速实验避免反光的挡板装置，属于宏观PIV实验的技术领域。该装置包括底座部分、支架部分和拍摄挡板部分组成。支架与底座相连，并通过滑槽来调整两个支架的距离，用螺栓来紧固支架的位置；另外支架为空心的套管结构，可以随时调节高度；拍摄挡板部分用固定夹固定在支架上，其中拍摄孔可根据拍摄平面来调整其形状及位置。该装置可以实现不同位置及形状的PIV拍摄，避免了反光问题对实验结果的影响，同时保护了相机的安全，保证了PIV实验的顺利开展，节省了时间成本。
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Type： 发明申请
Patent No.： CN201910804073.9
Filing Date： 2019-08-28
Publication Date： 2019-11-15
Pub. No.： CN110456098A
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 驳回
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