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本发明公开了一种叶片型面精密测头系统，属于叶片型面精密测量技术领域。该测头系统基于同步规划测量思想设计，由路径规划传感器、型面精测传感器、三轴精密调整滑台、转接板、转接板、转接板和测控电路等组成。其中，测控电路集成在叶片测量平台的内部，负责路径规划传感器、型面精测传感器测量数据的采集和三轴精密调整滑台的调整和控制。该测头系统充分考虑了叶片型面特点，很好的克服了上述现有技术的缺点，具有高精度、高效率、免形状等优点；结构简单、可靠性强、加装和系统集成方便；测量和规划同步进行，且不需输入理论数据用于路径规划，大大提高了测量的效率和灵活性。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN201711358673.4
Filing Date： 2017-12-17
Publication Date： 2019-06-28
Pub. No.： CN108036698B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权
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