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一种基于图像灰度分析的微尺度薄膜振动频率的测量方法，属于实验装置及方法技术领域。将微米级荧光示踪粒子添加到制备微尺度薄膜的试剂中，制备得到含有示踪粒子的薄膜。通过荧光显微镜和高速摄像技术记录薄膜内荧光粒子在显微镜下进入和离开焦平面的变化过程，利用matlab分析不同时间下的图像灰度，记录其变化规律并分析得到薄膜振动频率。本发明可以适用于不能安装传感器的微尺度薄膜上，所涉及的测量方法和处理方法成熟，可靠性可以得到保证，并且操作过程简单。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN201410307243.X
Filing Date： 2014-06-30
Publication Date： 2017-11-24
Pub. No.： CN104089696B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权 ; 许可
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