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本发明涉及一种用于裂纹方向识别的超声散射系数优化计算方法，属无损检测领域。本发明利用超声相控阵检测系统，采集裂纹缺陷的全矩阵数据，首先利用采集到的数据对缺陷进行全聚焦成像确定其位置，然后计算裂纹缺陷的散射系数空间分布，确定裂纹的角度。其中子阵列包含的晶片个数、相邻子阵列间隔晶片数对裂纹角度的测量精度影响较大。本发明利用多个评价指标评价不同子阵列包含的晶片个数、相邻子阵列间隔晶片数时裂纹角度测量结果的优劣，通过主成分分析法综合评价测量结果，得到最佳测量结果，其对应的参数——子阵列包含的晶片个数和相邻子阵列间隔晶片即为最佳检测参数。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN201410514853.7
Filing Date： 2014-09-29
Publication Date： 2017-02-15
Pub. No.： CN104280455B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 未缴年费
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