Indexed by：
Abstract：
一种基于超声相控阵系统的锻件缺陷类型识别方法，属无损检测领域。其特征在于：进行缺陷识别的硬件平台包括计算机(1)、超声相控阵系统(2)、线性阵列传感器(3)。具体方法为利用超声相控阵系统激励/接收超声波信号，线性阵列传感器发送和接收超声波信号，由计算机采集检测A扫信号和扇扫图形。观察缺陷回波形状，计算缺陷回波频谱特征信息，观察缺陷扇扫图形轮廓形状进行缺陷类型确定。本发明提供了一种锻件内部缺陷类型的识别方法，解决了常规超声探伤方法检测效率低，无法准确确定缺陷类型且检测对于工程人员的专业经验有很高依赖性的问题。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Patent Info ：
Type： 发明授权
Patent No.： CN201410126591.7
Filing Date： 2014-03-31
Publication Date： 2016-08-17
Pub. No.： CN103901102B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 未缴年费
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 4
Affiliated Colleges：
