Indexed by:
Abstract:
本发明涉及放大倍率可变的工业X射线底片数字化细节观察仪,用于实现对工业焊缝检测X射线底片的数字化处理。本装置包括光源(1)、三可变镜头(3)、与镜头(3)相连的数字摄像头(6)、与数字摄像头(6)连接的计算机(10),还包括聚光罩(2)、移动机构、对焦机构、步进电机控制器(9);并且,所述计算机(10)含有清晰度判断及自动调焦程序。采用均匀LED强光透射底片提供照明,并且使用三可变微距镜头和工业用面阵数字摄像头对底片采像,采集图像实时传送至计算机。操作者可以通过计算机发出控制指令,驱动运动系统,实现对底片采像的缩放,以观察底片的局部细节。在缩放过程中,计算机通过清晰度判断和自动对焦算法,驱动对焦机构,实现实时自动对焦,保证缩放过程中的图像不失真。
Keyword:
Reprint Author's Address:
Email:
Patent Info :
Type: 发明授权
Patent No.: CN200910249805.9
Filing Date: 2009-11-27
Publication Date: 2011-05-18
Pub. No.: CN101718912B
Applicants: 北京工业大学
Legal Status: 未缴年费
Cited Count:
WoS CC Cited Count: 0
SCOPUS Cited Count:
ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All
WanFang Cited Count:
Chinese Cited Count:
30 Days PV: 0
Affiliated Colleges: