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本发明涉及一种接触式光纤测头测量方法与装置属于精密测试技术与仪器和光学精密测量领域。其基本思想：单色光光源的光通过单根光纤传至远离端光纤球，然后通过光纤球外层的反射膜反射回来，再进入外围的接收光纤束，然后经过光学系统至后端的图像探测器，再通过数字图像处理来识别接收来的光斑，如果前端光纤球触碰到被测物，则会导致发射光纤发生弯曲变形，从而导致反射回来的光的光强发生变化，反映到光斑图像的变化，从光斑变化信息提取被测物空间几何量信息。该方法克服了接触式测量的各向异性和测杆变形带来的测量误差，以及非接触测量中对被测物表面要求高的缺陷。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN200910087716.9
Filing Date： 2009-06-19
Publication Date： 2011-02-02
Pub. No.： CN101586942B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权 ; 许可
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