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用热壁外延法在氟金云母衬底上生长出了高质量C60薄膜，用原子力显微镜观察了样品的表面形貌．测量并分析了不同厚度C60薄膜的紫外-可见吸收光谱．由测量的透射及反射光谱，经计算得到了吸收系数与入射光子能量的关系．利用结晶半导体的带间跃迁理论，对禁戒的带间直接跃迁hu→t1u和电偶极允许的带间直接跃迁hu→t1g的带隙分别进行了计算．
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Source ：
半导体学报
ISSN： 0253-4177
Year： 2001
Issue： 3
Volume： 22
Page： 299-303
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