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受激发射损耗(STED)显微可以打破衍射极限,观测到小于200 nm的细胞器内部结构。利用径向偏振光通过大数值孔径(NA)成像可以提高STED系统的分辨率。计算了径向偏振光径向光强分布和纵向光强分布,并分析了数值孔径变化时径向光强分布和纵向光强分布的变化。结果表明:纵向聚焦光斑比径向聚焦光斑小,且随着NA的增大,径向偏振光径向聚焦光斑和纵向聚焦光斑尺寸均变小,强度曲线图的半峰全宽(FWHM)也变小,光强分布更加集中。因此,增大NA可以提高STED显微成像系统的分辨率。
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激光与光电子学进展
Year： 2016
Issue： 04
Volume： 53
Page： 110-115
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