• Complex
  • Title
  • Keyword
  • Abstract
  • Scholars
  • Journal
  • ISSN
  • Conference
搜索

Author:

张弘 (张弘.) | 冯继宏 (冯继宏.) | 张森 (张森.)

Abstract:

  在这篇文章中,我们分析了不同高数值孔径对受激发射损耗(STED)显微中损耗光光强分布的影响.根据Debye 矢量衍射积分公式,研究了STED 显微成像中,损耗光经过0/2π螺旋相位板,再经过高数值孔径(NA)透镜时的聚焦特性.从结果中我们可以分析得到,当数值孔径增大时,损耗光的半高宽(FWHM)大小会减小,但是当NA 从1.15 变到1.30时,半高宽保持不变,当NA=1.35,1.4 的时,半高宽有向上增加的趋势.结果表明:一般来说当NA 增大时,STED 显微的分辨率是提高的,但是不能严格地说,数值孔径越大,STED显微镜的分辨率越大.

Keyword:

分辨率 半高宽 数值孔径 受激发射损耗显微 光强分布

Author Community:

  • [ 1 ] [张弘]北京工业大学
  • [ 2 ] [冯继宏]北京工业大学
  • [ 3 ] [张森]北京工业大学

Reprint Author's Address:

Email:

Show more details

Related Keywords:

Source :

Year: 2015

Page: 1-7

Language: Chinese

Cited Count:

WoS CC Cited Count: 0

SCOPUS Cited Count:

ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All

WanFang Cited Count: -1

Chinese Cited Count:

30 Days PV: 10

Affiliated Colleges:

Online/Total:525/10587111
Address:BJUT Library(100 Pingleyuan,Chaoyang District,Beijing 100124, China Post Code:100124) Contact Us:010-67392185
Copyright:BJUT Library Technical Support:Beijing Aegean Software Co., Ltd.