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在模拟海洋环境下进行了3组不同盐溶液浓度的晶体管加速腐蚀试验，对试验样品得到的腐蚀结果进行了研究。对晶体管管壳的腐蚀速度随着浓度的增加而下降的原因进行了分析，阐述了晶体管管壳、涂层和外引线的腐蚀机理。另外，试验结果表明，晶体管外引线断裂现象依然是晶体管工艺生产过程中存在的亟需解决的问题。
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四川兵工学报
ISSN： 1006-0707
Year： 2014
Issue： 7
Page： 110-114
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