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为了更好实现ZnO材料在光电器件方面的应用,研究了Ag/Au和n-ZnO薄膜的欧姆接触.通过半导体特性分析系统测出欧姆接触的I-V特性曲线和采用挖补圆盘法测试了欧姆接触的接触电阻率,研究了退火温度对接触特性的影响.利用俄歇电子能谱(AES)研究了欧姆接触的微观结构,比较了不同的金属电极的反射特性.结果表明,Ag(50 nm)/Au(100 nm)和n-ZnO薄膜的欧姆接触在退火温度为500℃时最好,欧姆接触电阻率仅为5.2×10-4 Ω·cm-2,且其反射特性比其它金属电极好.
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光电子·激光
ISSN： 1005-0086
Year： 2014
Issue： 8
Volume： 25
Page： 1511-1515
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