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为了增加存储器测试的可控性和可观测性,减少存储器测试的时间和成本开销,在此针对LEON处理器中的32位宽的SRAM进行BIST设计.采用March C+算法,讨论了SRAM的故障模型及BIST的实现.设计的BIST电路可以与系统很好的相连,并且仅增加很少的输入/输出端口.仿真结果证明,BIST的电路的加入在不影响面积开销的同时,能够达到很好的故障覆盖率.
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Source ：
现代电子技术
ISSN： 1004-373X
Year： 2011
Issue： 10
Volume： 34
Page： 149-151
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