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本文研究了完全检验的质量控制问题,将广泛用于X-控制图的AT&T准则应用于完全检验,并根据完全检验的特点,提出一种新的最优模型,数值实验结果表明AT&T准则下的完全检验优于传统的完全检验.
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数理统计与管理
ISSN： 1002-1566
Year： 2003
Issue： 6
Volume： 22
Page： 29-35
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WoS CC Cited Count： 0
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