Abstract：
本文提出了电子元器件一种新的快速评价方法(CETRM),具有快速、准确、成本低、效率高等优点。能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数、退化机理;可对单样品求出与失效机理相应的失效激括能和寿命;通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数。以高频小功率管3DG130样品为例,通过验证实验和与现场数据对比,证明了新方法的正确和有效。本方法特别适用于失效率优于10~(-7)/h(λ＜10~(-7)/h)产品的可靠性定量评价,其试验周期为传统方法的1/8。
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Year： 2009
Language： Chinese
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