Abstract：
根据压电换能器的Mason等效电路,就36°у切LN/PM声光器件和x切LN/TeO_2声光器件以及各种镀层材料和厚度计算了换能器损耗TL随规一化频率f/f_0的变化关系,由此可确定各镀层的厚度和器件的换能器带宽,还给出器件的电输入阻抗z_i在阻抗圆图上随f/f_0变化的轨迹,它可作为器件性能测试的理论依据。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
物理学报
Year： 1979
Issue： 06
Page： 796-806
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 3
Affiliated Colleges：
