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本发明提出了一种宽带高分辨率光谱响应测量系统及方法，属于光谱响应测量和微波光子学领域，用于解决现有方法测量范围窄、测量分辨率低和仅能测量带阻光器件的问题。具体技术方案为：细步进可调光源发出的光载波进入双平行马赫‑曾德尔调制器，细步进射频源结合微波90°耦合器得到两路射频信号，并分别输入上下两个子调制器，通过偏置控制电路调整偏置电压，产生载波抑制单边带信号。该信号通过50：50保偏耦合器分成上下两路光信号，上路通过待测器件后进入光电探测器；下路经过1 : 99保偏耦合器后，1％的信号作为反馈信息进入偏置控制电路，99％的信号进入光电探测器。控制与信号采集电路对输入的两路电信号进行平衡探测，从而得到待测器件的光谱响应。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN201911237519.0
Filing Date： 2019-12-06
Publication Date： 2021-11-26
Pub. No.： CN110926511B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权
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