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本发明公开了一种基于自适应MCKD的轴承外圈早期故障诊断方法，该方法为一种针对轴承外圈早期故障的诊断方法。本发明针对MCKD降噪效果受滤波器阶数L及位移顺序M影响的问题，研究了轴承的故障机理，提出了一种基于自适应MCKD的轴承外圈早期故障诊断方法。在不同M值情况下，分别计算Teager谱峭度均值，选取最优位移顺序M，再以Teager谱峭度为目标函数，利用迭代算法搜寻最优滤波器阶数L，通过包络谱提取微弱故障特征。对比最小熵解卷积(MED)算法，本方法显示了更高的准确度，证明了本方法对轴承外圈早期故障诊断的准确性。
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Type： 发明申请
Patent No.： CN201810956206.X
Filing Date： 2018-08-21
Publication Date： 2018-12-21
Pub. No.： CN109063672A
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 驳回
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