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秦飞 (秦飞.) (Scholars:秦飞) | 安彤 (安彤.) | 仲伟旭 (仲伟旭.) | 刘程艳 (刘程艳.)

Indexed by:

CQVIP PKU CSCD

Abstract:

研究Sn3.0Ag0.5Cu/Cu界面处的IMC在150℃下等温时效的生长情况,时效时间分别为100,300,500,1000 h.拟合出IMC的厚度与时效时间的关系,采用纳米压痕仪进行纳米压痕试验,发现Cu6 Sn5与Cu3 Sn的变形机制不同.Cu6Sn5为非连续性塑性变形,表现为压痕过程中的锯齿流变;Cu3 Sn的压痕曲线比较平滑.随Cu6Sn5厚度的增加,Cu6 Sn5的弹性模量和硬度没有太大变化.对时效100,500 h后的Sn3.0Ag0.5Cu/Cu界面处的过渡区进行纳米压痕试验,发现Cu,Cu3Sn,Cu6 Sn5和Sn3.0Ag0.5Cu的硬度大小顺序为Cu6 Sn5> Cu3 Sn> Cu> Sn3.0Ag0.5Cu.

Keyword:

力学性能 电子封装 金属间化合物 纳米压痕

Author Community:

  • [ 1 ] [秦飞]北京工业大学
  • [ 2 ] [安彤]北京工业大学
  • [ 3 ] [仲伟旭]北京工业大学
  • [ 4 ] [刘程艳]北京工业大学

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Source :

焊接学报

ISSN: 0253-360X

Year: 2013

Issue: 1

Volume: 34

Page: 25-28,32

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