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电子芯片散热问题的解决进程直接影响着计算机技术的发展.目前,电子芯片冷却中应用最广泛的仍然是空气散热器.因此,对散热器的性能进行检测非常重要,但缺少统一的标准检测与评价方法.本文采用一个试验装置对两个不同类型的散热器的性能进行测试,并对结果进行整理,分析了散热器的稳态、瞬态下的储热和散热性能.从而探索了标准的散热器性能评价方法及标准的散热器性能测试方式.
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工程热物理学报
ISSN： 0253-231X
Year： 2004
Issue： 6
Volume： 25
Page： 995-997
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
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