Indexed by：
Abstract：
存储器测试是集成电路测试的重要部分.随着集成电路存储器件向着高集成度发展,存储器测试成本在集成电路总测试成本中所占比例急剧增高.通过减少存储器测试时间来减小存储器测试成本,是一种高效的降低芯片测试成本的方法.本文以一款单周期同步存储器为例,选取读写时序为对象,详细分析了存储器内建自测试方法,给出了一种通过优化存储器内建自测试逻辑时序来减小存储器测试时间的设计实现方法.
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
中国集成电路
ISSN： 1681-5289
Year： 2013
Issue： 6
Volume： 22
Page： 31-34
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： 2
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 8
Affiliated Colleges：
