• Complex
  • Title
  • Keyword
  • Abstract
  • Scholars
  • Journal
  • ISSN
  • Conference
搜索

Author:

王晓冬 (王晓冬.) | 吉元 (吉元.) | 钟涛兴 (钟涛兴.) | 李志国 (李志国.) | 夏洋 (夏洋.) | 刘丹敏 (刘丹敏.) (Scholars:刘丹敏) | 肖卫强 (肖卫强.)

Indexed by:

CQVIP PKU CSCD

Abstract:

采用EBSD研究了不同线宽和退火前后Cu互连线的织构和晶界特征分布.Cu互连线均具有多重织构,其中(111)织构强度最高.沉积态样品在室温下发生了自退火现象,并出现了一些异常长大的晶粒.随高宽比降低和退火处理,Cu互连线晶粒尺寸变大,(111)织构得到加强,而具有较低应变程度的织构与(111)织构强度的比例下降.沉积态样品出现了(111)<112>和(111)<231>织构组分.退火后,出现了(111)<110>组分,而且(111)<112>和(111)<231>组分得到增强.Cu互连线以大角度晶界为主,其中具有55°~60°错配角的晶界和∑3晶界比例最高,35°~40°的错配角和∑9晶界次之.随高宽比增加和退火处理,∑3晶界比例逐渐升高,∑9晶界比例下降.

Keyword:

错配角 重合点阵晶界 Cu互连线 电子背散射衍射 织构

Author Community:

  • [ 1 ] [王晓冬]中国人民武装警察部队学院
  • [ 2 ] [吉元]北京工业大学
  • [ 3 ] [钟涛兴]北京工业大学
  • [ 4 ] [李志国]北京工业大学
  • [ 5 ] [夏洋]中国科学院微电子研究所
  • [ 6 ] [刘丹敏]北京工业大学
  • [ 7 ] [肖卫强]北京工业大学

Reprint Author's Address:

Email:

Show more details

Related Keywords:

Source :

半导体学报

ISSN: 0253-4177

Year: 2008

Issue: 6

Volume: 29

Page: 1136-1140

Cited Count:

WoS CC Cited Count: 0

SCOPUS Cited Count:

ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All

WanFang Cited Count: 4

Chinese Cited Count:

30 Days PV: 11

Online/Total:613/10528776
Address:BJUT Library(100 Pingleyuan,Chaoyang District,Beijing 100124, China Post Code:100124) Contact Us:010-67392185
Copyright:BJUT Library Technical Support:Beijing Aegean Software Co., Ltd.