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刘婧 (刘婧.) | 吕长志 (吕长志.) | 李志国 (李志国.) | 郭春生 (郭春生.) | 冯士维 (冯士维.) (Scholars:冯士维)

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CQVIP PKU CSCD

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加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法.目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验.简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍.

Keyword:

可靠性 加速寿命试验 电子元器件

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Source :

半导体技术

ISSN: 1003-353X

Year: 2006

Issue: 9

Volume: 31

Page: 680-683

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