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孙英华 (孙英华.) | 李志国 (李志国.) | 程尧海 (程尧海.) | 张万荣 (张万荣.)

Indexed by:

PKU CSCD

Abstract:

在回流动力学理论和实验研究的基础上,将回流加固结构应用于实际微波功率器件.结合器件具体结构和制备工艺,对金属化布线电流分布和最佳回流长度进行了模拟计算和分析,结合实际工艺优化设计了回流加固结构,制备了六种结构样管,电热应力试验结果表明:采用一个缝隙、缝隙宽度为3μm的结构回流加固效果最好,抗热电徙动能力最强.利用回流效应可有效降低微波管中的纵向(Al-Si界面)电迁徙失效,提高器件可靠性.

Keyword:

金属化 微波功率器件 回流结构

Author Community:

  • [ 1 ] [孙英华]北京工业大学
  • [ 2 ] [李志国]北京工业大学
  • [ 3 ] [程尧海]北京工业大学
  • [ 4 ] [张万荣]北京工业大学

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Source :

半导体学报

ISSN: 0253-4177

Year: 2000

Issue: 7

Volume: 21

Page: 705-710

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